四探针技术

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常温下半导体导电性能主要由掺杂情况决定,而掺杂浓度可以控制在1014~1021厘米-3这样...四探针法的测量线路如图7-34图中1、2、3、4是四根金属探针(一般用钨丝腐蚀成),它们排在一直线上,而且要求四探针同时与样品表面接触良好,外 ...

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