X头影测量

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为Broad-bent 1931年所创用。主要用以测量X线头颅定位照相的影像,对牙、颌、颅面各标志...常用于研究颅颌生长发育,牙、颌面软硬组织的形态结构以及口腔正畸、正颌外科的临床诊断、治疗设计等。

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