芯片测试
更新时间:-- | 阅读量: 203

1.数字万用表的检修应遵循图17-21所示的工作程序2.数字万用表的故障检查方法按图17...1）使用MF47型万用电表R×1kΩ对ICL7106芯片离线检测时，红表笔搭接26号脚，黑表笔检测各引脚，测试数据见表17-7黑表笔搭接26号脚 ...

搜索到与“ 芯片测试”相关的文献共 2条

声表面波器件小型化工艺中芯片的测试与改进
晶圆芯片测试，依靠探针触点与芯片电极间的机械接触，实现机一电连接和信号转换，从而完成对器件  的电参数测试。该文通过设计和加工微探卡的方式，针对探针与芯片接触触点少导致接地信号采集不完整，影...

《压电与声光》 2015年1期关键词: "探针","电参数","微探卡" 收藏
JESD51-5X系列LED芯片的光和热性能测试标准解析
介绍了LED芯片光和热性能测试的最新国际标准(JESD51-52),分析解读了标准中提出的测试方法,并通过试验加以验证,对JESD51-5X系列标准在LED行业中的推广应用具有积极的参考和指导意义。

《轻工标准与质量》 2015年01期关键词: "LED芯片"," 光性能"," 热性能"," JESD51-52标准"," 测试方法" 收藏