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简称HREM。利用高分辨透射电子显微镜直接观察固体中原子级微观结构的一种实验方法。......,加速电压在200kV以上,点分辨率为0.1~0.3nm。高分辨电子显微术广泛应用于研究微晶结构、晶体缺陷、界面结构、生物及有机化合物等方面。
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《信息化研究》
《太赫兹科学与电子信息学报》
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《现代电子技术》
《微电子学与计算机》
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