少数载流子注入

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电学参数是半导体材料测量的重要内容。它主要包括导电类型、电阻率、寿命和迁移率测量。...正向偏置结外加一正向脉冲电压,即有少数载流子注入,反向偏置结收集少数载流子。可根据示波器观察少子收集的波形,并计算出少子的漂移迁移率。亦可以从霍耳系数 ...

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