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用一定能量的光子激发半导体材料,由其产生的特征发光谱线来分析半导体材料性能的一种光...从激发与发射之间的光致发光衰减时间可以测量半导体材料中载流子的寿命。由带边发射线确定其禁带宽度，也可测定化合物半导体材料混晶的组分等。光致发光测量的应 ...
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