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简称TEM。利用透射电子显微镜对材料微观组织及晶体结构进行分析的一种研究手段。...现代透射电子显微镜分辨率达0.1nm，若结合电子束照射微区产生的X射线能谱（EDS）和电子能量损失谱（EELS），可用来直接分析晶体材料中原子的分布状态， ...
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