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随着半导体探测器检测系统的日益发展和计算机定量分析程序的不断改善,电镜X射线微区分析...3.首先鉴别有统计意义的谱峰：由于X射线谱系中，K谱峰近似高斯峰，L和M谱峰多呈非对称峰，所以一般先鉴别K谱峰，并要求它有足够高的计数。4.随时分析 ...
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