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＝王守武,半导体器件物理学家。中国科学院院士。...组织领导全国半导体测试中心的建设50年代末，自从锗、硅半导体单晶材料和晶体管在半导体研究室相继问世后，半导体材料与器件工业，在全国雨后春笋般地发展起来，但材料与器件质量的检测手段，远不能 ...
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<p>可靠性是分析产品使用年限的一门全新学科，可以明确地反映出产品质量。<br/></p>
《天津中德职业技术学院学报》 2015年4期 关键词: "半导体集成电路","可靠性测试","数据处理方法" 收藏
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